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飞达光学网: 技术论文 / 光学技术 / 综述文章 / 纳米测量展望
纳米测量展望
2004-12-03       来源:
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纳米测量展望
    纵观纳米测量技术发展的历程,它的研究主要向两个方向发展:

    一是在传统的测量方法基础上,应用先进的测试仪器解决应用物理和微细加工中的纳米测量问题,分析各种测试技术,提出改进的措施或新的测试方法;

    二是发展建立在新概念基础上的测量技术,利用微观物理、量子物理中最新的研究成果,将其应用于测量系统中,它将成为未来纳米测量的发展趋向。

    但纳米测量中也存在一些问题限制了它的发展。建立相应的纳米测量环境一直是实现纳米测量亟待解决的问题之一,而且在不同的测量方法中需要的纳米测量环境也是不同的,目前应该建立一个合适的纳米环境,寻求新的测量原理和多种技术的综合应用。

    同时,对纳米材料和纳米器件的研究和发展来说,表征和检测起着至关重要的作用。由于人们对纳米材料和器件的许多基本特征、结构和相互作用了解得还不很充分,使其在设计和制造中存在许多的盲目性,现有的测量表征技术就存在着许多问题。

    此外,由于纳米材料和器件的特征长度很小,测量时产生很大扰动,以至产生的信息并不能完全代表其本身特性。这些都是限制纳米测量技术通用化和应用化的瓶颈,因此,纳米尺度下的测量无论是在理论上,还是在技术和设备上都需要深入研究和发展。
责任编辑: FlyDa

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